IEC 60747-8-3-1995 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管第3节:外壳额定开关场效应晶体管空白详细规范

作者:标准资料网 时间:2024-05-02 14:08:59  浏览:8582   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Semiconductordevices-Discretedevices-Part8:Field-effecttransistors-Section3:Blankdetailspecificationforcase-ratedfield-effecttransistorsforswitchingapplications
【原文标准名称】:半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管第3节:外壳额定开关场效应晶体管空白详细规范
【标准号】:IEC60747-8-3-1995
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:1995-04
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子设备及元件;分立器件;规范;场效应晶体管;晶体管;详细规范;电气工程;半导体器件
【英文主题词】:Detailspecification;Discretedevices;Electricalengineering;Electronicequipmentandcomponents;Field-effecttransistors;Semiconductordevices;Specification;Transistors
【摘要】:Theobjectofthequalityassessmentsystemforelectroniccomponentsistodefinequalityassessmentproceduresinsuchamannerthatelectroniccomponentsreleasedbyoneparticipatingcountryasconformingwiththerequirementsofanapplicablespecif
【中国标准分类号】:L40;L56
【国际标准分类号】:31_240
【页数】:37P;A4
【正文语种】:英语